2017-09-24 06:05:54
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  仪器型号:日立S-570(日本)

  主要规格及技术指标:二次电子分辨率5nm,X射线能谱分辨率150ev

  元素分析范围Na---U.

  
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  主要规格及技术指标:二次电子分辨率5nm,X射线能谱分辨率150ev<br />
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  元素分析范围Na---U.<br />
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  [IMG]365|upload/article/786cf37fd745a76234e797259ec2b2ba.jpg[/IMG]<br />
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  功能及应用范围:固体材料表面微观形貌分析及微区表面成分分析,可用于材料科学、<br />
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  地质矿物、生物学、考古、刑侦、化工及其它微区表面分析.<br />
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  仪器责任人:高翔<br />
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  放置地点:西北大学长安校区化学楼115室<br />
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  联系电话:029-81535028<br />
  ”大图


  功能及应用范围:固体材料表面微观形貌分析及微区表面成分分析,可用于材料科学、

  地质矿物、生物学、考古、刑侦、化工及其它微区表面分析.

  仪器责任人:高翔

  放置地点:西北大学长安校区化学楼115室

  联系电话:029-81535028
  
     
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